A szinkrotron tárológyűrűkben a relativisztikus sebességgel mozgó könnyű elemi részecskék (elektronok, pozitronok) állandó pályán tartásához szükséges dipólus eltérítőmágnesek szolgáltatják a sugárzást. A szinkrotron nyalábcsatornán végzendő kísérlet megtervezéséhez szükséges legfontosabb fizikai mennyiség a (spektrális) fényesség, amely egy megadott energiatartományú fotonok száma /s /vertikális szög /horizontális szög /forrás területe. (Mértékegysége általában foton s-1 mm-2 mrad-2 (0,1% sávszélesség)-1.) A legtöbb fizikai méréshez a nagyobb fényesség előnyösebb.
Szinkrotronsugárzás és tulajdonságai
Szinkrotronsugárzás akkor keletkezik, amikor relativisztikus sebességű könnyű elemi részecskék (elektronok, pozitronok) sebességük vagy mozgásirányuk megváltoztatására kényszerülnek (azaz
gyorsulnak). Ez a sugárzástípus nagyon intenzív, fényessége 106- 1012-szerese a konvencionális röntgencsövek által emittált sugárzásnak. Energiatartománya az infravöröstol a kemény röntgensugárzásig terjed, és az elektron tárológyűrű pályasíkjában kibocsátott sugárzás általában lineárisan polarizált. A szinkrotronsugárzás természeténél fogva kollimált is a gyűrűben mozgó elektronok kvázi-cirkuláris mozgásának tangenciális irányában. Nagy fényessége és természetes kollimáltsága teszi alkalmassá a szinkrotronsugárzást mikroszkopikus röntgennyalábok létrehozására.A szinkrotronokból nyerhető röntgennyalábok egyedülálló tulajdonságokkal rendelkeznek, amelyek használhatóságukat bizonyítják.
A szinkrotronsugárzás nagy fényessége abból adódik, hogy relativisztikus energiákon a fékezési sugárzás szögeloszlása éles maximumot mutat a töltött részecske mozgási irányában. Minden foton, amelyet a laboratóriumi rendszerrel történő méréshez használunk, a speciális relativitáselmélet szerint transzformálódik. A szinkrotronban haladó nagy sebességű elektron nagyon keskeny röntgennyalábot bocsát ki, amely az elektronenergia növelésével fényesebb lesz. Az elektron mozgási irányához viszonyítva q szögben emittált sugárzás a laboratóriumi rendszerben q szögben látszik. A kritikus energia közelében a transzformációt a következő egyenlet adja meg:
q = 90° esetén tg q » q » g - 1 a tipikus félnyílásszög a laboratóriumi rendszerben. Ez a nyílásszög 500 mrad 1 GeV elektronenergián és 73 mrad 7 GeV-on.
"Insertion device"-ok
Az első generációs szinkrotron sugárforrások parazita-üzemmódban muködtek a nagyenergiájú fizikában használt részecskegyorsítókon. A röntgennyalábot előállító eltérítő
mágneseket meglévő gyűrűk részeiként illesztették be. Amikor egy elektroncsomag áthalad az eltérítőmágnesen, az elektronnyaláb horizontális széttartása növekszik a mágnes által a görbületi középpontban bezárt szög függvényében. Feltételezve, hogy az elektronnyaláb mérete és divergenciája nem befolyásolja a fényességet, a fényesség a következő egyenlettel adható meg:BBM = 1.33´ 1013 E2IH2(e /e c),
ahol E a tárológyűrű energiája GeV-ban, I a gyűrűáram A-ben, e a röntgenenergia, e c a tárológyűrű kritikus energiája és H2 (e /e c) egy függvény, amelyet Kim* foglalt táblázatba. Az eltérítőmágnesből származó sugárzás fényessége lineárisan növekszik a gyűrűárammal és a gyűrűenergia négyzetével. A második generációs szinkrotronokat már teljesen a szinkrotronsugárzás mint röntgenforrás hasznosítására tervezték, és eltérítőmágnesek sorozatát tartalmazzák. A harmadik generációs tárológyűrű források főként insertion device-okon - wigglereken és undulátorokon - alapulnak, amelyek extrém nagy fényességű röntgenforrásokra adnak lehetőséget.
Nyalábcsatornák és kísérleti berendezések
Minden szinkrotronsugárzást alkalmazó nyalábcsatorna tartalmaz vákuum- és nyalábkomponenst, amelyek megvédik a gyűrűt a vákuumrendszer meghibásodásaitól és a sugárvédelmet is szolgálják. A nyalábcsatorna vákuumrendszerét a tárológyűrűtől berilliumablak és horizontális apertúrák választják el. A tárológyűrű védopajzsa mögött elhelyezkedő front end egy biztonsági zárat tartalmaz, amely csak a nyalábcsatorna és a kísérleti állomás összekapcsolt állapotában nyitható. A kísérleti állomás több komponensbol állhat, ami lehetové teszi a minta mozgatását és speciális műszereket tartalmaz röntgenfluoreszcenciás, -abszorpciós, -diffrakciós stb. vizsgálatokhoz. Néhány
alapvető komponens mint a mintaállvány és az optikai mikroszkóp mindenfajta mérés esetén hasonló.A mintaállvány legalább kétdimenziós transzlációs lehetőséggel rendelkezik, számítógépes vezérlésű léptetőmotorokkal mozgatható, ami lehetővé teszi a minta l
etapogatását illetve az optikai mikroszkóp fókuszába való beállítását. Gyakran az egész rendszer emelőasztalhoz van rögzítve, a pontos vertikális pozíció beállításához. A minta helyzetét egy TV kamerával felszerelt optikai mikroszkóp figyeli. Az objektívlencse nagyításának elfogadható munkatávolsághoz kell illeszkednie, hogy a bejövő vagy a kimenő nyaláb átmetszése elkerülheto legyen.* Kwang-Je Kim, X-ray Data Booklet (D. Vaugham Ed.), Lawrence Berkeley, (1986).